XIK-RD68系列 80G調(diào)頻雷達物位計
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商品詳情
XIK-RD68系列 80G調(diào)頻雷達物位計
原理
調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計的通用原理為雷達在罐頂發(fā)射電磁波，電磁波碰到介質(zhì)反射后被雷達接收，接收信號與發(fā)射信號之間的頻率差δf與介質(zhì)表面的距離R成一定比例關(guān)系：
R=C(速度)*δf(頻率差)/2/K (調(diào)頻斜率）。
因為光速C和調(diào)頻斜率K已知，因此估算出頻率差δf,便可得到雷達安裝位置料面的距離R，再通過已知的罐體總高，減去雷達到料面的空間距離（簡稱空高），得出料位的高度。
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特點
· 毫米波雷達，測量精度可達±1mm，測量最小盲區(qū)為0.1m。
· 更小的天線尺寸，滿足了更多的工況場合測量。
· 多種透鏡天線，更小的發(fā)射角，更集中的能量，回波信號更強，同等工礦條件下，相比于 其他雷達產(chǎn)品具有更高的可靠性。
· 擁有更強的穿透性，在有粘附及凝結(jié)的情況下也可以正常使用。
· 動態(tài)信號范圍更大，對于低介電常數(shù)介質(zhì)的測量更加穩(wěn)定。
· 多種測量模式，快速測量模式下雷達反應(yīng)時間小于1S。
