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E5071C 網絡分析儀具有同類產品中的射頻性能和最快的速度，并具有寬頻率范圍和的功能。
Agilent E5071C它是制造和研發工程師們測試頻率范圍在 20 GHz 以內的射頻元器件和電路的理想解決Agilent E5071C主要技術特點：
Agilent E5071C廣泛的動態范圍：在測試端口處具有 > 123 dB 的動態范圍（典型值） 極快的測量速度：Agilent E5071C全雙端口校準時為 41 ms，1601 跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms 集成的 S 參數測試裝置 端口選項：2 端口和 4 端口 平衡測量能力（4 端口選件） 頻率選件：9 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接頭）、300 kHz 至 20 GHz（帶有偏置 T 型接頭） Agilent E5071C內置 Visual Basic 應用程序設計語言Agilent E5071C ENA系列網絡分析儀是制造和研發工程師測試射頻元件和電路的理想測試方案，這些射頻元件和電路的頻率范圍為9KHz-8.5GHz，具有集成的2或4個端口和擴展的低頻率范圍，在同類產品中其性能、速度最快。ENA系列在一臺儀器上可提供如此寬的頻率范圍，顯著降低了測試成本。Agilent ENA系列可滿足大多數元件和電路的測試，包括EMC相關的應用、汽車、無線通信、和國防、教育，以及醫療應用等。E5071C是制造和研發工程師們測試頻率范圍在 20 GHz 以內的射頻元器件和電路的理想解決方案。
z 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接頭）、300 kHz 至 20 GHz（帶有偏置 T 型接頭）
極快的測量速度：全雙端口校準時為 41 ms，1601 點
低跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms
集成的 S 參數測試裝置
端口選項：2 端口和 4 端口
平衡測量能力（4 端口選件）
寬動態范圍：在測試端口上的動態范圍> 123 dB（典型值）
極快的測量速度：39 ms（進行完全雙端口校準，掃描1601點時）
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時）
集成的2和4端口，帶有平衡測量能力
提供頻率選件：從9 kHz/100 kHz（帶有偏置T型接頭）到4.5 GHz/8.5 GHz
Agilent E5071C ENA系列網絡分析儀是制造和研發工程師測試射頻元件和電路的理想測試方案，這些射頻元件和電路的頻率范圍為9KHz-8.5GHz，具有集成的2或4個端口和擴展的低頻率范圍，在同類產品中其性能、速度最快。ENA系列在一臺儀器上可提供如此寬的頻率范圍，顯著降低了測試成本。Agilent ENA系列可滿足大多數元件和電路的測試，包括EMC相關的應用、汽車、無線通信、和國防、教育，以及醫療應用等。E5071C是制造和研發工程師們測試頻率范圍在 20 GHz 以內的射頻元器件和電路的理想解決方案。
產品指標： 9KHz至8.5GHz或300KHZ-20GHZ
z 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接頭）、300 kHz 至 20 GHz（帶有偏置 T 型接頭）極快的測量速度：全雙端口校準時為 41 ms，1601 點
低跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms
集成的 S 參數測試裝置
端口選項：2 端口和 4 端口
平衡測量能力（4 端口選件）
寬動態范圍：在測試端口上的動態范圍> 123 dB（典型值）
極快的測量速度：39 ms（進行完全雙端口校準，掃描1601點時）
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時）
集成的2和4端口，帶有平衡測量能力
提供頻率選件：從9 kHz/100 kHz（帶有偏置T型接頭）到4.5 GHz/8.5 GHz
