QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm用于MLF\/QFN封裝芯片老化測試
產品價格：￥128.00（人民幣）
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商品詳情
| 產品參數 | |||
|---|---|---|---|
| QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm用于MLF/QFN封裝芯片老化測試 型號 | QFN40-0.5（6*6）翻蓋老化座 070-6060-400 | ||
| 封裝/規格 | 插件 | ||
| 類型 | DIP | ||
| 間距 | 0.5 | ||
| 總針腳數 | 40 1 | ||
| 圓孔/方孔 | 圓孔 | ||
| 觸頭鍍層 | 金 | ||
| 工作溫度范圍 | -45~155℃ | ||
| 包裝 | 盒裝 | ||
| 認證機構 | CE | ||
| 最小包裝量 | 1 | ||
| 封裝 | QFN | ||
| 數量 | 1 | ||
| 批號 | 以出貨為準 | ||
| 品牌 | HMILU | ||
QFN40-0.5-6x6測試座
1.引腳：40 signal Pin 1 GND；
2.間距：0.5mm
3.尺寸：6*6mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
7.Temperature:-45~155℃
8.Current Rating：1A Max.
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