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特斯拉去年推出了自研的 FSD 車載 AI(人工智能)芯片, 性能較使用英偉達GPU芯片的前代產品提升達21倍, 極大增強了在智能化方面的核心競爭力, 是其發展歷史上的里程碑.
未來的智能汽車就是一臺四個輪子上的超級計算機, 其中最核心的器件就是車載AI芯片, 是智能汽車的數字發動機.
車載AI芯片已經成為決定競爭勝負最重要的籌碼. 智能化變革推動汽車行業按照IT行業的邏輯和節奏向前發展, 同時也將掀起一場殘酷的淘汰賽, 作為智能化的基石, 車載AI芯片的重要性毋庸置疑.
而芯片的適應溫度有嚴格要求. 工業級芯片的工作溫度范圍是-40攝氏度至85攝氏度, 而車載芯片工作溫度范圍是-40攝氏度至125攝氏度.
國內某知名半導體芯片設計公司自主設計及開發國產車載芯片, 要求測試溫度范圍- 50 ℃~ 150 ℃, 需同時搭配模擬和混合信號測試儀, 檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項功能是否正常.
經過伯東推薦, 合作客戶采用美國 inTEST 高低溫測試機 ATS-545.
在車載芯片可靠性測試方面, ThermoStream ATS系列高低溫測試機有著不同于傳統溫箱的獨特優勢：
1. 變溫速率快, 每秒快速升溫/降溫18°C
2. 能實時監測待測元件真實溫度, 亦可隨時調整沖擊氣流溫度
3. 針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.
inTEST ATS-545-M 高低溫測試機技術參數：
|
型號 |
溫度范圍 °C |
* 變溫速率 |
輸出氣流量 |
溫度 |
溫度顯示 |
溫度 |
|
ATS-545-M |
-75 至 + 225(50 HZ) |
-55至 +125°C |
4 至 18 scfm |
±1℃ |
±0.1℃ |
T或K型 |
* 一般測試環境下；變溫速率可調節
高低溫測試機 inTEST ATS-545 測試過程:
1. 客戶根據各自的特定要求, 將被測芯片或模塊放置在測試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應治具上（產品放在治具中）.
2. 操作員設置需要測試的溫度范圍.
3. 啟動ThermoStream ATS-545, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入高低溫測試機內部制冷機進行低溫處理, 然后空氣經由管路到達加熱頭進行升溫,氣流通過玻璃罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實時監測當前腔體內溫度.
4. 在汽車電子芯片測試平臺下, ATS-545快速升降溫至要求的設定溫度, 實時檢測芯片在設定溫度下的在電工作狀態等相關參數, 對于產品分析、工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的數據依據.
運用結果反饋：
inTEST ATS-545-M 高低溫測試機能快速進行在電工作的電性能測試、失效分析、可靠性評估等. 通過使用該設備, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發過程中的潛在問題.
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