利用Axio Observer縮短樣品制備和檢測時(shí)間。

其倒置光學(xué)設(shè)計(jì)便于平行對準(zhǔn)物鏡，您只需將樣品放在載物臺(tái)上，對焦一次，并為之后的放大和樣品保持該對焦?fàn)顟B(tài)，便可以更短的時(shí)間觀察更多的樣品。

即使在改變放大倍率或切換冶金樣品時(shí)，也無需重新對焦。

Axio Observer的穩(wěn)定成像條件將為您帶來全新的體驗(yàn)，在高放大倍率下工作時(shí)更能提供出色表現(xiàn)。全觀察視野下的均勻照明保證了高圖像質(zhì)量。

通過各種蔡司光學(xué)元件和自動(dòng)化組件的組合，每次都能獲得可靠且可重復(fù)的結(jié)果。

利用NMI、Grains、Multiphase等專用軟件模塊進(jìn)行金相結(jié)構(gòu)分析，確保快速成像。

根據(jù)預(yù)算靈活選擇。對于Axio Observer，只需購買目前所需的功能。

當(dāng)需求改變時(shí)，您可以隨時(shí)升級(jí)系統(tǒng)。

有編碼或電動(dòng)組件及一系列配件任您選擇，您可以放心使用應(yīng)用所需的所有相關(guān)觀察方式。

在明暗場中都能獲得均勻且無雜散光的圖像背景，大大降低了雜散光干擾和色差。

使用固定分析儀、可360°旋轉(zhuǎn)的測量分析儀及帶旋轉(zhuǎn)全波片的旋轉(zhuǎn)分析儀，通過偏光觀察方式對樣品進(jìn)行檢測。即使沒有旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)，也可查看各向異性材料的雙反射性及多色性。

充分利用圓微分干涉相差（C-DIC）——一種使用圓偏光的偏光技術(shù)。