商鋪名稱：上海思為儀器制造有限公司
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| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | SHSIWI | ||
| 測量范圍 | 0.1mm~50mmN | ||
| 分辨率 | 1μmmm | ||
| 重量 | 100kg | ||
| 頻率范圍 | 10-110MHz | ||
| 安裝方式 | 自動 | ||
| 工作溫度 | 20℃ | ||
| 適用范圍 | 0μm~4000μm | ||
| 加工定制 | 是 | ||
| 外形尺寸 | 10000mm | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 類型 | 未知 | ||
| 型號 | YTS520-2 | ||
?水浸超聲掃描顯微鏡、無損檢測系統(tǒng)一體機(jī)、水浸超聲掃描顯微鏡、電力電子C超掃描顯微鏡、低壓電器銀點釬著率、半導(dǎo)體封裝空洞率檢測設(shè)備、聚晶金剛石復(fù)合片缺陷焊接率掃描顯微鏡、水冷板內(nèi)部裂痕無損檢測機(jī)、水冷散熱器缺陷C-SAM檢測設(shè)備、奧林巴斯超聲探頭，半導(dǎo)體塑封、粘片與焊接缺陷檢測用超聲掃描顯微鏡、超聲無損檢測設(shè)備，超聲波掃描探傷儀、焊縫無損檢測設(shè)備、IGBT模塊焊接空洞缺陷CT無損檢測設(shè)備、C-SCAN超聲掃描顯微鏡、功率器件超聲C掃描、集成電路聲學(xué)掃描顯微鏡； 金剛石行業(yè)檢測分析設(shè)備c-sam聲學(xué)掃描儀；超聲掃描顯微鏡SCAN 超聲波探傷儀C-SAM 聲學(xué)掃描顯微鏡工業(yè)CT、電子掃描顯微鏡、水浸超聲顯微鏡、元器件缺陷設(shè)備、聲學(xué)掃描顯微鏡、元器件檢測分析設(shè)備、工業(yè)掃描顯微鏡、水浸超聲c掃描工業(yè)CT、CSAM芯片分層空洞焊接、金剛石焊接檢測設(shè)備、水冷散熱器缺陷設(shè)備；
SHSIWI/上海思為儀器可為客戶提供超聲無損檢測儀器定制、檢測標(biāo)準(zhǔn)定制、檢測方案及夾具定制服務(wù)�，F(xiàn)已形成110金剛石一體機(jī)、100標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型、200大構(gòu)件機(jī)型、300高速機(jī)型、400桌面機(jī)及500小型機(jī)一體機(jī)，產(chǎn)品已通過ISO9001認(rèn)證；
可滿足低壓電器焊接質(zhì)量檢測、金剛石缺陷和厚度測量、水冷板散熱器檢測、半導(dǎo)體封測等行業(yè)需求。
支持非標(biāo)訂制，根據(jù)產(chǎn)品測試件來料提供免費(fèi)測試，提代ODM、OEM等全面服務(wù)
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