商鋪名稱：深圳市秋山貿易有限公司
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商品詳情
- 半英寸晶圓表面顆粒檢查設備。
標準半英寸晶片表面上的異物（顆粒）的高速掃描實時顯示在觸摸屏顯示器上。- 根據規格檢查顯示/運輸操作。
可以通過簡單的操作快速掌握晶片的顆粒狀態。- 檢測粒徑為0.1μm。
測量結果示例
- 根據規格檢查顯示/運輸操作。
- 掃描方式螺旋掃描
- 工作安裝標準的自動運輸
- 能量消耗AC100V 10A
- 最小檢測粒徑0.1微米
- 重現性σ/ X≦10％
- 測量時間1分鐘以內，包括運輸（測量重復性90％或更高）
- 待檢查的基材硅片等
- 工作安裝標準的自動運輸
日本ygkcop晶圓表面掃描儀
YPI-MX-ΘDC
YPI-MN
晶圓表面掃描儀最小半英寸晶圓表面顆粒檢查設備
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