DDR3內存條測試治具8位顆粒一拖八導電膠測
深圳市鴻怡電子有限公司
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2025/2/11
QFN48-0.35HAST測試座5x5mm
DDR3x8一拖八合金內存條測試治具內存條測
QFN32-0.5間距5*5尺寸燒錄座雙層轉
QFP48-0.57*7翻蓋彈片老化座國產替
QFN58-0.35芯片測試座支持NB-Io
SSOP28老化座TSSOP28測試座編程座
QFN60(8x8)-0.4-0091TGH
定制BGA1521翻蓋探針測試座CPU類BG
TO263-7L翻蓋老化座D2PAK芯片老化
DFN10-0.5-3x3翻蓋老化座微小型適
QFN96老化座間距0.35mm\/10x1
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